三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x與影像測(cè)量?jī)x相比有什么區(qū)別

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x（CMM）與影像測(cè)量?jī)x在測(cè)量維度、測(cè)量方式和主要測(cè)量工件類(lèi)型方面存在顯著區(qū)別：

1、測(cè)量維度不同

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x：三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x能夠測(cè)量三維坐標(biāo)系內(nèi)的點(diǎn)，即每個(gè)點(diǎn)都有其三維坐標(biāo)值（x, y, z）。這種測(cè)量方式使得三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x在測(cè)量精度上非常高，適用于需要精確三維測(cè)量的場(chǎng)合。

影像測(cè)量?jī)x：影像測(cè)量?jī)x主要測(cè)量二維空間坐標(biāo)系內(nèi)的點(diǎn)，即每個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)值僅在二維平面上定義（x, y）。影像測(cè)量?jī)x通常用于獲取工件的二維影像，并通過(guò)圖像處理技術(shù)進(jìn)行測(cè)量，適用于需要二維平面測(cè)量的場(chǎng)合。

2、測(cè)量方式不同

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x：三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x通過(guò)使用測(cè)頭接觸工件來(lái)獲取點(diǎn)的三維坐標(biāo)值。這種接觸式測(cè)量方式可以非常精確地測(cè)量工件的尺寸和形狀，但可能不適合測(cè)量軟質(zhì)或易損的工件。

影像測(cè)量?jī)x：影像測(cè)量?jī)x通過(guò)光學(xué)鏡頭獲取工件的圖像，然后通過(guò)圖像處理軟件進(jìn)行測(cè)量。這種非接觸式測(cè)量方式不會(huì)對(duì)工件造成損傷，適用于各種類(lèi)型的工件，包括軟質(zhì)或易損的工件。

3、主要測(cè)量工件類(lèi)型不同

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x：三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x適用于需要高精度三維測(cè)量的場(chǎng)合，如航空航天、汽車(chē)制造、精密機(jī)械等領(lǐng)域。它在測(cè)量精度上具有優(yōu)勢(shì)，但可能不適合測(cè)量小薄軟等類(lèi)型的工件。

影像測(cè)量?jī)x：影像測(cè)量?jī)x適用于需要二維平面測(cè)量的場(chǎng)合，如電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器等領(lǐng)域。它在測(cè)量效率和非接觸測(cè)量方面具有優(yōu)勢(shì)，但可能不適合需要三維測(cè)量的場(chǎng)合。

綜上所述，三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和影像測(cè)量?jī)x各有優(yōu)勢(shì)和適用場(chǎng)景，它們是兩種互補(bǔ)的高精密測(cè)量?jī)x器。在實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)工件的特性和測(cè)量需求選擇合適的測(cè)量設(shè)備。