產(chǎn)品簡介

CEM3000全系列高襯度掃描電子顯微鏡具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡，不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和高效的工業(yè)應(yīng)用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠，在現(xiàn)代制造業(yè)中為用戶帶來突破性的檢測解決方案。

中圖儀器CEM3000系列高襯度掃描電子顯微鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng)，用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

CEM3000全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡，不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和高效的工業(yè)應(yīng)用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠，在現(xiàn)代制造業(yè)中為用戶帶來突破性的檢測解決方案。

機(jī)型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時(shí)間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強(qiáng)抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進(jìn)而對(duì)不同類型的樣品進(jìn)行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像。

性能特色

1、緊湊外型

該系列臺(tái)式掃描電鏡整機(jī)經(jīng)過深入優(yōu)化，在結(jié)構(gòu)方面達(dá)到了優(yōu)尺寸利用率，確保其出色的性能不再受環(huán)境尺寸的制約，無論是日常的工作桌面、還是狹小空間，CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡總能陪伴用戶出現(xiàn)在有需要的地方。

2、自動(dòng)調(diào)節(jié)

用戶可借助自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

3、高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。

4、高抗振防磁性能

該系列臺(tái)式電鏡采用特殊設(shè)計(jì)的隔振措施，能夠減小環(huán)境中振動(dòng)對(duì)電鏡的干擾，并且全系列電鏡具有強(qiáng)抗電磁干擾性能，消除場地因素對(duì)電鏡的影響。

其中CEM3000B更是采用本公司設(shè)計(jì)的高性能復(fù)合抗振系統(tǒng)來消除外界振動(dòng)對(duì)電鏡的影響，即使是在高放大倍數(shù)下成像，用戶也不用擔(dān)心環(huán)境振動(dòng)對(duì)電鏡產(chǎn)生的干擾。

5、選配低真空系統(tǒng)

根據(jù)用戶需求，可選配低真空系統(tǒng)。該系統(tǒng)讓用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時(shí)的倉內(nèi)真空度(倉內(nèi)真空度低可達(dá)100Pa)，以滿足不同類型樣品的觀測需求。

6、操縱手柄

操作手柄上集成了多個(gè)方向位移控制，自動(dòng)調(diào)整及自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)消像散等功能，可快速完成觀測位置調(diào)整及自動(dòng)成像。

7、豐富的定制功能

根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動(dòng)化的顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測量等選配功能。

可根據(jù)用戶需求提供全自動(dòng)軟件定制服務(wù)。

8、高精度樣品臺(tái)

該系列臺(tái)式電鏡采用全新設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)，各自動(dòng)軸均保證了動(dòng)作精度和高重復(fù)性。

9、高襯度成像系統(tǒng)

采集系統(tǒng)具有高信噪比，使用戶在快速掃描時(shí)也能獲取到充足的信號(hào)。即使針對(duì)微弱信號(hào)，CEM3000系列臺(tái)式電鏡搭載的處理算法亦可將信號(hào)從背底中進(jìn)行高效剝離，確保成像質(zhì)量。

應(yīng)用領(lǐng)域

CEM3000系列高襯度掃描電子顯微鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測，具有高空間分辨率。

用戶可在搭配不同的探頭，同時(shí)接收多種信號(hào)，對(duì)樣品進(jìn)行分析。

應(yīng)用范例：

應(yīng)用案例

金屬材料分析

花粉微觀形態(tài)

部分技術(shù)指標(biāo)

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