產品簡介

SuperViewW光學表面輪廓儀系統以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，一體化高精度測量粗糙度與輪廓度。

中圖儀器SuperViewW光學表面輪廓儀系統一體化高精度測量粗糙度與輪廓度。它以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

一、性能特點

1.超高精度，數據可追溯：基于白光干涉技術，形貌重復性低至0.1nm，粗糙度RMS重復性僅0.005nm，臺階測量準確度達0.3%。搭配0.1nm分辨率環境噪聲評價與氣浮隔振底座，即便在車間振動環境中，也能輸出穩定可靠的數據，滿足ISO/ASME等300余種國內外標準要求。

2.高效自動化，降本增效：W1-Ultra型號在0.1nm分辨率下掃描速度高達8μm/s，單區域、多區域測量一鍵啟動，批量樣品可通過編程預設流程實現自動化檢測。某3C電子代工廠應用后，檢測效率提升60%，日均處理樣品量從300件增至480件，人力成本降低30%。

3.全場景適配，無需頻繁換設備：單一掃描模式覆蓋超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質，10mm Z向掃描范圍搭配方形、圓形等多種自動拼接模式，支持數千張圖像無縫拼接，輕松應對半導體研磨件、3C玻璃屏、光學元件等不同類型工件的測量需求。

4.自研軟件，適配性更強：Xtremevision Pro第二代3D測量軟件，可自動識別中圖W/VT/WT系列機型，支持白光干涉與共聚焦模式自由切換，能直接測量微觀平面輪廓的距離、角度等參數，搭配批量分析與多格式報表導出功能，適配質檢存檔與工藝優化全流程。

二、核心配置

1. 自研軟件平臺：Xtremevision Pro支持多機型自動識別，白光干涉與共聚焦模式自由切換，可直接測量微觀輪廓的距離、角度等參數。

2. 靈活硬件配置：320×200mm載物臺（負載10kg），標配10×干涉物鏡，可選2.5×-100×鏡頭，適配不同尺寸、類型工件。

3. 安全與便捷：集成式操縱桿控制XYZ軸、速度及光源亮度，急停功能一鍵觸發，新手培訓1天即可獨立操作。

三、行業應用

1.半導體制造：適配硅晶片研磨減薄后的粗糙度檢測、光刻槽道輪廓測量，助力頭部企業工藝良率提升8%，檢測數據通過國際標準認證，滿足供應鏈合規要求。

2.3C電子：精準測量手機玻璃屏粗糙度、金屬殼模具瑕疵、油墨屏高度差，批量檢測報表支持Word/Excel/PDF格式自動導出，適配供應鏈質檢存檔需求。

3.光學加工：量化納米臺階高度、光學元件表面輪廓，916.5nm臺階測量重復性達0.08%，幫助企業產品合格率從92%提升至99.2%。

4.汽車零部件：檢測精密軸承孔隙間隙、齒輪表面磨損輪廓，在復雜車間環境中保持數據穩定，某車企質檢周期縮短50%。

四、產品服務

1.交貨期：合同生效后30天內免費送貨上門，現場安裝調試。

2.質保服務：驗收后1年質保，故障2小時內響應，72小時上門維修。

3.增值支持：免費技術培訓，質保期后成本價提供備件與維護服務。

SuperViewW光學表面輪廓儀系統為精密制造、科研檢測等領域提供高精度+高效率+高適配的3D表面測量解決方案。如需獲取行業定制化方案、產品演示視頻或免費樣品測試，歡迎聯系中圖儀器。

（注：產品參數與配置可能因技術升級調整，具體以實際溝通為準。）